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CCD过程 发布时间:2013-3-3 17:46:53 Teledyne公司DALSA半导体的150毫米CCD过程中提供表面或埋通道运行速度高 达至15V的两个或三个层的多晶硅和一个,两个或三个的金属层。模块化的处理方法,使我们的代工客户,调整工艺参数,以满足最苛刻的要求CTE(99.999%),储存电荷的能力,并暗电流(<1nA/cm2)。基础工艺使用1X投影光刻与2.5μm的设计规则,最多允许管芯尺寸为100mm×100mm的。如有需要,更严格的的对准公差和更小的特征尺寸可以使用5倍光刻,混合使用和匹配或全部步进的方法。最大晶片尺寸达到与步进x 22毫米22毫米,但更大的传感器,可以采用拼接。 我们的CCD技术可广泛调谐; p或n-型,散装或epi起始原料,可以在宽范围内的电阻率,包括浮区硅到10kΩ厘米指定。可以添加客户指定埋通道和障碍植入适合自己的应用,通道停止,防晕染植入物或其他特殊功能。成功的项目,包括抗辐射的PMOS的CCD,和世界上分辨率最高的单片器件超过250MP。
为了支持我们所有客户的定制CCD过程中,我们提供了一个范围广泛的服务,光掩膜制造完成设备的特性。 Teledyne公司DALSA半导体经营的CCD晶圆代工服务作为一个单独的手臂从Teledyne公司的DALSA组的其他业务单位。客户信息和数据的保密性是有保证的。
设计规则
*湿的金属蚀刻的选择。 联系DALSA半导体Teledyne公司收到我们的最新的详细设计规则文件。
CCD的流程 |
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